透射电镜属中高压、高分辨透射电子显微镜，其最大特点是能反映样品的内部结构，是研究很多材料的微观结构与性能关系所必不可少的工具。可大范围的应用于材料科学、纳米技术、物理、生物、化学、光电子等领域，能从纳米乃至原子尺度上实现金属、陶瓷、半导体、高分子、纳米等材料的显微形貌、晶体结构、化学成份、界面结构、表面以及缺陷等的观察分析。
热机模拟试验系统是一套大多数都用在金属材料热变形行为机理及其它物理冶金研究的、
)行为的模拟实验，为金属材料的物理冶金研究及科研开发提供既揭示微观机理，又指导实际工艺的分析资料，快速缩短新材料、新工艺的开发周期，降低开发成本。Gleeble-3500主要由供电系统、加热系统、机械系统、
冷却系统及测控系统等组成。1）加热系统：Gleeble-3500独创的电阻加热系统能以10000℃/s
3～10倍；电阻加热容易实现试样稳态温度的调控。同时高导热率的夹具使Gleeble-3500具有高速的传导冷却能力；淬火系统可使试样表面的冷却速率达到10000℃/s。2）机械系统：Gleeble 3500的机械系统是一个具有10吨静态拉伸/
1000mm/s的移动速度。LVDT传感器、测力单元或非接触激光膨胀仪提供反馈数据确保机械测试程的精确性和可重复性。3）控制管理系统：Gleeble 3500系统的核心是Ⅲ型数字控制管理系统。通过数字闭环热力学伺服系统，同时提供了所有控制热和机械测试所必需的信号。Gleeble 3500可以完全计算机操作，完全手动操作，或二者的任意组合，为材料测试提供最大的灵活性。
XRD-7000S型X射线衍射仪采用样品水平型测角仪、操作便利，丰富的选配件支持多种多样的应用，不但可进行定性
定量等基本分析，还能应用于残留奥氏体定量、环境定量、晶格常数的精密化、结晶度的计算、晶体粒径和晶格应力的计算、晶系确定、Rietveid
主要附件包括：高温附件（室温至1200°）；薄膜分析附件；应力分析附件；多毛细管附件。二、主要技术参数
-6°- +82°（θs）-6°- +132°(θd)4）探测器：闪烁晶体计数器，线cps，配有具有前置信号增强功能的多毛细管系统，可增加强度有利于计数统计。三、应用场景范围：大范围的应用于物理、化学、药物学、冶金学、高分子材料、生命科学及材料科学。可以分析黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料、超晶格材料和磁性材料的物相鉴定。
结合为一体，在同一次测量中利用同一样品可同步得到热重与差热信息。适合同时测试热效应（转变温度、热焓）与质量的变化。
）通过一次测量，即可获取质量变化与热效应两种信息，不仅方便而节约时机，同时由于只需要更少的样品，对于样品很昂贵或难以制取的场合非常有利。2）消除称重量、样品均匀性、升温速率一致性、气氛压力与流量差异等因素影响，TG与DTA/DSC
曲线）根据某一热效应是否对应质量变化，有助于判别该热效应所对应的物化过程（如区分熔融峰、结晶峰、相变峰与分解峰、氧化峰等）。
4）实时跟踪样品质量随温度／时间的变化，在计算热焓时可以样品的当前实际质量（而非测量前原始质量）为依据，有利于相变热、反应热等的准确计算。
广泛应用于陶瓷、玻璃、金属／合金、矿物、催化剂、含能材料、塑胶高分子、涂料、医药、食品等各种领域可用来测量：1）熔融与结晶过程、耐热性、结晶度
我实验室所配置的场发射扫描电子显微镜由三个部分所组成，其型号及生产厂商如下：
JSM-7600F场发射扫描电子显微镜可以对很多类型的样品进行高分辨图像观察，结合能谱仪（
Inca X-Max 50）能够对微区进行成分分析及线分布、面分布分析，结合电子背散射衍射仪（HKL Nordlys S
）可对晶体样品的晶粒取向和取向关系等做多元化的分析，获得关于样品的大量的晶体学信息。二、主要技术参数1、场发射扫描电子显微镜（JSM-7600F）：
点/秒。三、基本功能及应用场景范围大范围的应用于物理、化学、生物、地学、矿物、金属、半导体、陶瓷、高分子、复合材料、纳米材料等领域的研究。
扫描电子显微镜基本功能：材料表面的高分辨图像观察。能谱仪基本功能：谱定性、定量、线扫描、面分布。
电子背散射衍射仪基本功能：7个晶系鉴别，取向和取向差分析，晶界特征分布，织构分析（极图、反极图、ODF）等。
毛细管流变仪由德国HAAKE公司生产，大多数都用在高聚物材料熔体流变性能的测试。毛细管流变仪由Rheocord
℃；4）溶体压力测量范围：0～700bar。三、应用场景范围：测试高聚物材料熔体流变性能，分析加工特性。