镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线W左右，所以不会对样品造成损失破坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
永久磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成特殊的比例关系，这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可做测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用最广。测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小就可以获得覆层厚度。新型的产品能自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。这种仪器的特点是操作简单便捷、坚固耐用、不用电源，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。
采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。
磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。
高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。
采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。
不少智能型手机均采用的Gorilla Glass系列抗刮玻璃，目前由康宁宣布推出第四代产品Gorilla Glass 4，除标榜坚固耐用度相较其它市场同级竞争产品高出两倍，此次更针对屏幕掉落时的破损提升强度，减少实际破坏程度。 CGG4_Crosswalk_withText_648X459 康宁宣布推出第四代抗刮玻璃产品Gorilla Glass 4，标榜相较市场同级采用铝矽玻璃产品将提升至少两倍强度，特别也针对屏幕掉落时的破损提升强度，减少实际破坏程度，同时可维持80%比例不会受到损坏 (注)。而其它同等级以钠钙材质制作玻璃，几乎在相同测试方式下均达100%破损率。 Gorilla Glass 4采用康宁熔融下
大多数PN结二极管都可以用作光电二极管。虽然不是最佳选择，但它们确实可用。当二极管反偏时，随着光照级别的升高，它会产生一个小的光伏输出。LED非常适合于这种任务，因为它们的外封装是透明的。 可以构造出一个简单电路，用于评估周围光线强度，并且由于很多LED的封装都经过染色，目的是增强发色能力，因此能够给所探测颜色做出一个合理评估。结果虽然不如用高质量光纤滤波器（通常有窄带特性）所得结果那么有效，但也能接受的。不过，本文的设计并不能用实验室级光电管和互阻放大器提供设计的精度，但它能够迅速组装，以低成本得到可用的结果。 设计使用了三只LED,通过实验可表明哪只器件对这种颜色最为敏感（图1）。照射在LED上的
的照度计 /
X射线的英文简写为XPD或XRD。有时会把它叫做x射线多晶体衍射仪，英文名称为X-raypolycrystallinediffractometer简写仍为XPD或XRD。 图1.某品牌X射线衍射仪外观图 一、原理： x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可当作X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。分析衍射结果，便可获得晶体结构。以上是1912年德国物理学家劳厄(M.vonLaue)提出的一个重要科学预见，随即被实验所证实。1913年，英国物理学家布拉格父子(W.H.
衍射仪对比分析 /
问题： 如何测量不同光源的光强度？ 回答： 拿一只红光、绿光、蓝光LED。 光强度的确定可能至关重要，例如，在设计房间的照明或准备拍摄照片时。在物联网(IoT)时代，确定光强度对于所谓智能农业也有着及其重要的作用。在这种情况下，一项关键任务是监测和控制重要的植物参数，以促进植物最好地生长并加速光合作用。因此，光是最重要的因素之一。大多数植物通常吸收可见光谱中红光、橙光、蓝光和紫光波长的光。光谱中绿光和黄光波长的光一般会被反射，对植物生长的贡献不大。经过控制不同生长阶段中的部分光谱和光照射强度，可以使生长最大化，最终提高产量。 图1显示了一个用于测量可见光谱范围内的光强度的电路设计，用于植物光合作用的实验。这里使用了
转换为一个电学量 /
某X射线探测器内部结构为Si雪崩二极管(AvalanchePhoto diode，APD)，其利用光电效应将入射光信号转变为半导体器件内的光电子，在此基础上，利用反向偏压产生的雪崩击穿原理对光电子进行雪崩式放大，从而激发很强的雪崩电流。由于探测器实际中要工作于临界雪崩状态，所以要对探测器的反向偏置电压进行精细调节，另一方面也需要对每个探测器进行单独调整。 文章采用数子电位计进行偏压的精细调节，数字电位计是一种利用数字信号控制输出电阻值变化的元器件，较传统的机械式电位计有耐冲击、尺寸封装小、调节准确方便、稳定性很高、可编程、接口丰富、应用领域广等优点，文章选用数字电位计AD5141可实现输出端电阻60 ～100 k 调节，从而调整外部
探测器偏压调节 /
就在拆除大军们忙着对Galaxy SIII下手的时候，我们似乎看到了一种更聪明的做法，是通过X射线探秘它的内在。说到效果吗，朋友们不妨自己来看看吧： 这个做法是由一位读者提出的，他叫Alex。他想既然医院可以用数字化的设备帮助人们看清五脏六腑，那么为什么X射线就不能看看科学技术产品的内在呢？ 其实看清科学技术产品的内部结构也就是拆除大军们的目的，那么，Alex的方法似乎更简单，同时还不会令机器遭到“大卸八块”的对待，似乎也更加聪明一些。您觉得呢？
X射线 比拆卸更聪明的窥探 /
#include REG51.H #include math.h //Keil library #include stdio.h //Keil library #include INTRINS.H #define uchar unsigned char #define uint unsigned int #define DataPort P0 //LCD1602数据端口 sbit SCL=P1^0; //IIC时钟引脚定义 sbit SDA=P1^1; //IIC数据引脚定义 sbit LCM_RS=P1^2; //LCD1602命令端
● 高强度 超薄玻璃 “ SCHOTT AS 87 eco ” 能够 保护 手机与穿戴设备的 指纹传感器 、 摄像头 和 显示屏 免遭破裂和划痕的困扰 ● 厚度范围 70- - 350 µm ● 独特的 技术 确保 了最 优 性能 ● 环保，无需进行 有害 的 氢氟酸 减薄处理 ● “ 德国制造 ” 全球领先的科技集团肖特 近日 推出一款 高强度超薄玻璃，同时具备优异的 表面上的质量 和环保特性 ，可以 在日常生活中为手机和平板电脑提供保护。 电子科技类产品 供应商可以再一次进行选择全新的 “SCHOTT AS 87 ec o” 作为柔性显示屏、摄像头和指纹传感器的 保护玻璃盖板 ，从而防止这些脆弱的部件 免遭破裂和划痕的困扰 。凭借其创新生产工艺，
数字图像处理（第四版）Digital Image Processing，Fourth Edition (Rafael C.Gonzalez, Richard E.Woods)
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