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1、超声波探伤试验与实做要求1、仪器水平线性的测试仪器水平线性的测试 。 基本概念：基本概念： 水平线性也称为时基线性或扫描线性，是时基水平线性也称为时基线性或扫描线性，是时基线水平刻度值与实际声程成正比关系的程度。也就线水平刻度值与实际声程成正比关系的程度。也就是说，扫描线上显示的反射波距离与反射体距离成是说，扫描线上显示的反射波距离与反射体距离成正比的关系。或是说探伤仪水平扫描速度的均匀正比的关系。或是说探伤仪水平扫描速度的均匀程度。程度。 因此，水平扫描线（时间基线）的非线性会引起因此，水平扫描线（时间基线）的非线性会引起定位误差。定位误差。 抑制：抑制：-作用是抑制荧光屏上幅度较低或认
2、为不必要作用是抑制荧光屏上幅度较低或认为不必要的杂乱反射波，使之不予显示。从而使荧光屏显示的杂乱反射波，使之不予显示。从而使荧光屏显示的波形清晰。的波形清晰。 延迟旋钮：延迟旋钮：-或称脉冲移位（水平旋钮）；作用是调或称脉冲移位（水平旋钮）；作用是调节开始发射脉冲时刻与开始扫描时刻之间的时间节开始发射脉冲时刻与开始扫描时刻之间的时间差。调节延迟可以使扫描线上的回波位置大幅度差。调节延迟可以使扫描线上的回波位置大幅度左右移动而不改变回波之间的距离。所以可调节左右移动而不改变回波之间的距离。所以可调节延迟旋钮进行零位校正延迟旋钮进行零位校正。实验目的实验目的：1 1、熟练掌握探伤仪器各旋钮的功能作
3、用、熟练掌握探伤仪器各旋钮的功能作用及正确操作。及正确操作。2 2、掌握、掌握仪器水平线性的测试方法。仪器水平线性的测试方法。需要注意的几点：水平线性测试应在探伤仪各个档上分别进行，测试时使用探伤面与底面平行且表面十分光滑的任何试块，试块的厚度原则上相当于探测声程的1/5，采用任意的常用探头。探伤仪的抑制置于“0”或“断”，其它调整取适当值。实验器材：实验器材：1 1、A A型探伤仪型探伤仪；（例如：；（例如：CTS-CTS-2222型超探仪）型超探仪）2 2、直探头直探头；3 3、CSK-IACSK-IA试块或其他试块试块或其他试块实验步骤实验步骤：JB/T9214-1999JB/T9214-1999
4、A A型脉冲反射式超声探伤系统工作性型脉冲反射式超声探伤系统工作性能能 测试方法测试方法 1、抑制置“0”或 “关”，其它旋钮置合适位置。2、将探头置于CSK-IACSK-IA试块25厚表面上，中间加适当的耦合剂，保持稳定的声耦合。调节探伤仪的增益和扫描范围（粗调和细调），使荧光屏上显示出第6次底波。3、当底波B1和B6的幅度分别为50%满刻度时，将他们的前沿分别对准刻度0和100（设水平全刻度为100格），由于B1和B6的前沿位置在调整中相互影响，则应反复做调整直至调好。4、再依次分别地将再依次分别地将B2B2、B3B3、B4B4、B5B5底波调到底波调到50%50%满刻度，并分别读出各底
5、波的前沿与刻度满刻度，并分别读出各底波的前沿与刻度2020、4040、6060、8080的偏差值（以格数计）填入的偏差值（以格数计）填入表中表中。注意：注意：B1-B6B1-B6这六个底波是分别调到同一幅度，这六个底波是分别调到同一幅度，即即50%50%满刻度高度，而不是同时达到此幅度。满刻度高度，而不是同时达到此幅度。注意：此为模拟仪器做法，数字仪器自动调校注意：此为模拟仪器做法，数字仪器自动调校按按25,12525,125即即B1B5B1B5完毕，看完毕，看B2B2，B3B3，B4B4误差即误差即可。可。5 5、然后取其中最大的偏差值、然后取其中最大的偏差值amax amax ，则水平线、误差为，则水平线性误差为L=L= amaxamax % %（标准规定（标准规定L2%L2%），或水平线性），或水平线性误差为误差为L=L= amaxamax /B/B100 %100 %实验结果：实验结果：L=L=？表：水平线性测量纪录表：水平线性测量纪录底波多次回波B1B2B3B4B5B6理想水平刻度读数实际水平刻度读数误差Lx2、垂直线性（动态范围）测试方法垂直线性（动态范围）测试方法 （JB/T10061-JB/T1标准规定垂直线性误差标准规定垂直线%）：）： 为经验测试超声波探伤仪增益线性和衰减器精度两者的为经验测试超声波探伤仪增益线性和衰减器精度两者
7、的综合效果。对于根据回波幅度评定缺陷大小时具备极其重大意综合效果。对于根据回波幅度评定缺陷大小时具备极其重大意义。仪器的垂直线性的准确测定需用外接设备。本实验只义。仪器的垂直线性的准确测定需用外接设备。本实验只是对仪器的放大线性做一般的评定。是对仪器的放大线性做一般的评定。 垂直线性也称为放大线性，是荧光屏上的波高与输垂直线性也称为放大线性，是荧光屏上的波高与输入信号幅度成正比的程度，主要根据放大器的性能。入信号幅度成正比的程度，主要根据放大器的性能。垂直线性的好坏直接影响对缺陷的定量精度垂直线性的好坏直接影响对缺陷的定量精度, ,引起定量误引起定量误差。差。 接收电路包括：高频放大器、衰减器、检
8、波电路及视接收电路包括：高频放大器、衰减器、检波电路及视频放大器。频放大器。实验器具：实验器具：1 1、A A型探伤仪；型探伤仪；2 2、直探头；、直探头；3 3、试块、试块DB-P Z20-2DB-P Z20-2（相当于（相当于CS-1-5CS-1-5）或Z20-4试块实验步骤实验步骤：1、“抑制”置零，调节仪器其它旋钮置合适位置。2、探头至于试块CS-1-5上，中间加适当的耦合剂，保持稳定的声耦合，移动探头，找出2平底孔回波并置于荧光屏满刻度的中间位置上。3、调节仪器（增益、衰减器）使其波幅高度达到100%满刻度，此时衰减器至少应有30dB衰减余量。记录分贝数值N1。4、以每次衰减2Db的
9、增量调节衰减器，每次记下满刻度的回波幅度百分值，直至衰减值为26分贝，观察其波高变化，将测试结果填入表中，计算相对偏差值（测试值与波高理论值之差为偏差值）。5、计算垂直线性偏差，即：从表中取最大正偏差d（）和最大负偏差d（）的绝对值之和。 d= d（）（） d（）（） （%）6、继续衰减到30分贝，判定是否能清楚的确认回波的存在，观察回波即将消失前，记录此时的分贝数值N2。仪器探伤系统的动态范围即为=N2-N1。 （标准规定动态范围26 dB）注意：衰减器是用来调节探伤灵敏度和测量回波振幅。衰减读数大，灵敏度低，回波振幅高；表：垂直线性测试纪录（利用公式=20L理/L总 计算波高理论值填入表中
10、，取负值）计算波高理论值：=20（L理/L总）；L理衰减A分贝时相应理论波高，L总-垂直刻度的100%波高。3 3、分辨力的测定、分辨力的测定 测试探伤仪和探头性能时，要把仪器和探头组合测试探伤仪和探头性能时，要把仪器和探头组合在一起，这样测得的性能时仪器和探头特性的综合反在一起，这样测得的性能时仪器和探头特性的综合反映。因此，我们把这些性能称为探伤仪和探头的组合映。因此，我们把这些性能称为探伤仪和探头的组合性能。主要有性能。主要有信噪比、灵敏度余量、始波宽度、盲信噪比、灵敏度余量、始波宽度、盲区和分辨力区和分辨力等。等。 深度分辨力指两个相邻的反射体（可以是相深度分辨力指两个相邻的反射体（可
11、以是相邻的缺陷或缺陷与界面）所显示的回波能被清楚邻的缺陷或缺陷与界面）所显示的回波能被清楚分辨的最小距离。能区分的距离越小，则称分辨分辨的最小距离。能区分的距离越小，则称分辨力愈高。力愈高。 影响分辨力的重要的因素有发射强度、影响分辨力的重要的因素有发射强度、回波宽度、和探头的阻尼特性等。回波宽度、和探头的阻尼特性等。 分辨力与脉冲宽度有关，脉冲宽度小，分辨力与脉冲宽度有关，脉冲宽度小，分辨力高。发射强度大，可提高仪器灵敏分辨力高。发射强度大，可提高仪器灵敏度，但是脉冲变宽，分辨力变差。度，但是脉冲变宽，分辨力变差。实验目的：实验目的：1、理解超探仪的分辨力的物理含义。2、熟练超探仪的操作。3、掌
12、握超探仪的分辨力的测试方法。实验器材实验器材：1、A型超探仪CTS-22型2、CSKA试块3、2.5P20Z探头4、耦合剂实验步骤：实验步骤：1 1、（抑制）至（抑制）至“0”0”位或位或“断断”，其他旋钮取适当位置。，其他旋钮取适当位置。( (深度粗调置于深度粗调置于1010挡，即第一挡位置挡，即第一挡位置) )2 2、探头置于试块、探头置于试块CSK-IACSK-IA（或（或IIWIIW）上）上R100R100曲面圆心处，中间加适当的耦曲面圆心处，中间加适当的耦合剂以保持稳定的声耦合，调节仪器的增益并前后左右移动探合剂以保持稳定的声耦合，调节仪器的增益并前后左右移动探头荧光屏上出现声程为头
13、荧光屏上出现声程为8585、9191、100100的三个反射波的三个反射波A A、B B、C C。3 3、适当调节探伤仪增益和发射强度，同时使、适当调节探伤仪增益和发射强度，同时使A A、B B两底面反射波波峰同高，两底面反射波波峰同高，均为垂直满刻度的均为垂直满刻度的20-30%20-30%，记下衰减器读数，记下衰减器读数S1S14、调节衰减器，使A、B两反射波波峰之间的波谷上升到原波峰高度，记下衰减器读数S2。5、衰减器所释放的dB数，即以dB值表示的超声探伤系统的分辨力。标准规定分辨力6）。 测得仪器和探头组合分辨力X为： X=S1-S2 （dB） 探伤盲区测试探伤盲区测试 本实验是为了
14、测定超声波探伤系统在规定的探伤灵敏度下，本实验是为了测定超声波探伤系统在规定的探伤灵敏度下，从探伤表面至可探测缺陷的最小距离，即探伤盲区。盲区是衡量从探伤表面至可探测缺陷的最小距离，即探伤盲区。盲区是衡量仪器和探头组合探测近表面缺陷能力的尺度。盲区小，可探测出仪器和探头组合探测近表面缺陷能力的尺度。盲区小，可探测出离探测面较近的缺陷，反之，则只能探出离探测面较远的缺陷。离探测面较近的缺陷，反之，则只能探出离探测面较远的缺陷。 影响盲区的重要的因素有发射强度、始波宽度、放大器恢复影响盲区的重要的因素有发射强度、始波宽度、放大器恢复时间、探头的阻尼特性等。测试时，以反射回波大于时间、探头的阻尼特性等。
15、测试时，以反射回波大于50%50%，反射，反射回波前沿与始波后沿相交的波谷低于回波前沿与始波后沿相交的波谷低于10%10%，此时，平底孔孔底距探测，此时，平底孔孔底距探测面的最小距离即为盲区。面的最小距离即为盲区。实验目的：实验目的：1、了解盲区的概念以及影响盲区的重要的因素。2、掌握盲区的测试方法。3、熟练超声波探伤仪的操作。实验器材：实验器材：1、A型超声波探伤仪2、DZ-1型试块或CSK-1试块3、2.5P20Z直探头实验方法：实验方法：1、探伤仪的抑制置于、探伤仪的抑制置于“0”0”或或“关关”，其它旋钮调整取适当位置。，其它旋钮调整取适当位置。2 2、调节超声探伤仪灵敏度，使符合探伤规
16、范的要求。如使来自、调节超声探伤仪灵敏度，使符合探伤规范的要求。如使来自DB-PZ20-2DB-PZ20-2型型或或Z20-4Z20-4试块上的平底孔回波达到试块上的平底孔回波达到50%50%满刻度。（相当于满刻度。（相当于CS-1-5CS-1-5试试块）块）3 3、将探头置于、将探头置于DZ-1DZ-1型试块上，中间加适当耦合剂以保持稳定的声耦合。选择型试块上，中间加适当耦合剂以保持稳定的声耦合。选择能够分辨开的最短探测距离的能够分辨开的最短探测距离的2mm2mm横孔，并将孔的回波幅度调至大横孔，并将孔的回波幅度调至大于于50%50%满刻度，如回波的前沿和始波后沿相交的波谷低于满刻度，如回波
17、的前沿和始波后沿相交的波谷低于10%10%满刻满刻度，则此最短距离即为盲区。度，则此最短距离即为盲区。 5、灵敏度余量测试灵敏度余量测试 灵敏度是表示检测系统对缺陷探测能力的一种量度，灵敏度较高意味灵敏度是表示检测系统对缺陷探测能力的一种量度，灵敏度较高意味着在一定声程处能探测出较小的缺陷。着在一定声程处能探测出较小的缺陷。 噪声电平是探伤仪自身电路、探头、耦合剂和工件等所产生的噪声信噪声电平是探伤仪自身电路、探头、耦合剂和工件等所产生的噪声信号，太大的噪音（电子的或声学的）可埋没缺陷的指示，因此会限制缺号，太大的噪音（电子的或声学的）可埋没缺陷的指示，因此会限制缺陷的可探测性。小缺陷波难于辨认。
18、陷的可探测性。小缺陷波难于辨认。 一般说来，灵敏度、分辨力、和信噪比是相互有关的，对他们的评价应一般说来，灵敏度、分辨力、和信噪比是相互有关的，对他们的评价应当在相似的条件下进行。当在相似的条件下进行。 本实验是为了检查探伤系统灵敏度的变动情况，用灵敏度余量值本实验是为了检查探伤系统灵敏度的变动情况，用灵敏度余量值表示。灵敏度余量也称综合灵敏度或组合灵敏度。表示。灵敏度余量也称综合灵敏度或组合灵敏度。当其反射波幅将当其反射波幅将至指定高度时探伤仪所剩余的放大能力。至指定高度时探伤仪所剩余的放大能力。实验目的：实验目的：1、了解探伤系统灵敏度的含义。2、熟练探伤仪的操作。3、掌握灵敏度余量的测试
19、方法。实验器材：实验器材：1、仪器A型显示超探仪。（CTS-22型）2、探头纵波直射单探头3、试块CS-1-5实验方法：实验方法：1、“抑制”至“0”位或“断”，其他旋钮取适当位置。最优选择在随后探伤工作中将使用的调整值。2、将仪器的增益调至最大，但如电噪声较大时，应降低增益或调节衰减器，使电噪声电平降至10%以下，记录此时的衰减器读数为S0。3、将探头置于试块上，中间加适当的耦合剂，保持稳定的声耦合，调节衰减器使平底孔回波高度降至50%满刻度，记录此时的衰减器读数为S1。4、计算探伤系统的灵敏度余量 S=S0-S16 6、信噪比的测试、信噪比的测试 在超声波探伤中，信噪比是指界面反射波幅与最
20、大杂波幅在超声波探伤中，信噪比是指界面反射波幅与最大杂波幅度之比，以度之比，以dBdB计。（计。（20Db20Db）。另外，对于噪声电平也可以在避）。另外，对于噪声电平也可以在避免外界干扰的条件下（即将探头和探伤仪连接置于空气中），将免外界干扰的条件下（即将探头和探伤仪连接置于空气中），将探伤仪的灵敏度和探测范围调至最大，读取时基线上噪声平均幅探伤仪的灵敏度和探测范围调至最大，读取时基线上噪声平均幅度在垂直刻度上的百分数表示噪声电平。度在垂直刻度上的百分数表示噪声电平。 （注意，超探仪工作频率分若干档级时，应对各频率档级分别来测试。（注意，超探仪工作频率分若干档级时，应对各频率档级分别进行测
21、试。) )实验目的：实验目的：1、了解信噪比的概念。2、熟练探伤仪的操作。3、掌握信噪比的测试方法。实验器材：实验器材： 1、仪器A型显示超探仪。（CTS-22型）2、探头纵波直射单探头3、试块CS-1-5。实验步骤： 1、调节增益旋钮至最大，抑制旋钮置于“0”或“关”。2、将探头放在试块上，在荧光屏上出现（1）平底孔的反射波和杂波。记下此时最大杂波的高度。3、调节仪器衰减器使平底孔反射波高度与记下的杂波高度相等，此时衰减器衰减的分贝值即为信噪比。以N表示，按JB1834标准规定，N20dB。 7、始波宽度的测试 始波宽度也称始脉冲宽度，它是指发射脉冲的维持的时间，以一定灵敏度条件下荧光屏水平“
22、0”刻度至始波后沿与垂直刻度20%线交点间的水平距离所相当的超声波传播距离表示。始波宽度大，仪器和探头组合的盲区就大，探测近表面缺陷的能力就差，影响始波宽度的重要的因素是探头阻尼特性、探伤仪放大器带宽和放大器功能等。 始波宽度分负载始波宽度和空载始波宽度，前者是探头置于试块或工件表面时的始波宽度，后者是探头置于空气中的始波宽度。试验器材：试验器材：1、A型超探以CTS-22型。2、CSK-1A（或W）试块和CS-1-52(15号4)试块。3、被测直探头。实验步骤实验步骤：1、抑制置、抑制置“0”0”或或“关关”，其它置合适位置。，其它置合适位置。2 2、将被测直探头置于、将被测直探头置于CSK-
23、1ACSK-1A试块厚试块厚100mm100mm处，调节探伤仪深度和水平处，调节探伤仪深度和水平（或延迟）旋钮，是第一次底波（或延迟）旋钮，是第一次底波B1B1前沿对准水平刻度前沿对准水平刻度5 5格，第二次格，第二次底波底波B2B2前沿对准水平刻度前沿对准水平刻度1010格（水平刻度满刻度），并使格（水平刻度满刻度），并使B2B2的幅度的幅度为垂直刻度的为垂直刻度的50-80%50-80%。3 3、将探头移至、将探头移至CS-1-5(15)CS-1-5(15)试块上，移动探头使平底孔反射波最高，调试块上，移动探头使平底孔反射波最高，调节衰减器，使孔的反射波波幅为垂直刻度的节衰减器，使孔的反射
24、波波幅为垂直刻度的50%50%。4 4、（再把衰减器的衰减量减少、（再把衰减器的衰减量减少12dB,12dB,）然后读取从刻度板的零点至始波后沿）然后读取从刻度板的零点至始波后沿于垂直刻度于垂直刻度20%20%线交点所对应的水平距离线交点所对应的水平距离W1W1，W1W1即为负载始波宽度，以即为负载始波宽度，以钢中纵波传播距离表示。钢中纵波传播距离表示。5 5、将探头置于空气中，擦去其表面油层，读取从刻度板零点至始波、将探头置于空气中，擦去其表面油层，读取从刻度板零点至始波后沿于垂直刻度后沿于垂直刻度20%20%线交点所对应的水平距离线交点所对应的水平距离W0W0，W0W0即为负载始波宽度，即
25、为负载始波宽度，以钢中纵波传播距离表示。以钢中纵波传播距离表示。纵波检测(锻件） 在实际探伤中，为了在确定的探测范围内发现规定大小的缺陷，并对缺陷定位和定量，就必须在探伤前调节好探伤仪器的扫描速度和灵敏度。实验目的：实验目的：1、掌握纵波探伤时扫描速度的调整方法（标定）。2、掌握纵波探伤时灵敏度的调整方法。3、掌握纵波探伤时对缺陷定位、定量的方法。探头的选择：探头的选择： 锻件超声波探伤时，主要使用纵波直探头，晶片尺寸为直径14mm至28mm，常用直径20mm。对于较小的锻件，考虑到近场区和耦合损耗原因，一般都会采用小晶片探头。对于近距离缺陷，由于直探头的盲区和近场区的影响，常采用双晶直探头探伤。
26、 探伤频率常采用2.5至5.0MHz，对于少数材质晶粒粗大衰减严重的锻件，为了尽最大可能避免出现“林状回波”的影响，提高信噪比，应选用较低的频率，一般为1.0至1.25MHz。 耦合选择：耦合选择： 在锻件探伤中，为实现较好的声耦合，探测面粗糙度一般不大于6.3微米，表面平整均匀、无划伤、油垢、污物等。 在试块上和工件上采用相同的耦合剂。扫差方式的选择：扫差方式的选择： 原则上应在探伤面上从两个相互垂直的方向做全面扫差，扫差覆盖面应为探头直径的15%，探头移动速度不大于150mm/s。1、扫描速度的调节（标定）扫描速度的调节（标定）定义：仪器示波屏上时基扫描线的水平刻度值定义：仪器示波屏上时基扫描线、的水平刻度值与实际声程与实际声程x x（a a）的比例）的比例关系称为扫描速度或时基扫描线比例。即关系称为扫描速度或时基扫描线：n n；它类似于地图；它类似于地图比例尺，如扫描速度比例尺，如扫描速度1 1：2 2表示仪器示波屏上水平刻度表示仪器示波屏上水平刻度1 1表示实际声程表示实际声程2 2。注意：一般我们将仪器示波屏上时基扫描线的水平刻度值。注意：一般我们将仪器示波屏上时基扫描线的水平刻度值定义为定义为100100（或（或100100格）。格）。 探伤前应根据探测范围来调节扫描速度，以此能在规定的范围内发现缺探伤前应根据探测范围来调节扫描速度，以此能在规定的范围内发
28、现缺陷并对缺陷定位。陷并对缺陷定位。 调节扫描速度的一般方法是根据探测范围利用已知尺寸的试块调节扫描速度的一般方法是根据探测范围利用已知尺寸的试块或工件上的两次不同反射波的前沿分别对准相应的水平刻度值来实或工件上的两次不同反射波的前沿分别对准相应的水平刻度值来实现。不能利用一次反射波和始波来调节，因为始波与一次反射波的现。不能利用一次反射波和始波来调节，因为始波与一次反射波的距离包括超声波通过保护膜、耦合剂或有机玻璃斜楔的时间，所以距离包括超声波通过保护膜、耦合剂或有机玻璃斜楔的时间，所以这样调节扫描速度误差大。纵波探伤一般按纵波声程来调节扫描速这样调节扫描速度误差大。纵波探伤一般按纵波声程来
29、调节扫描速度。度。 调节方法调节方法：将纵波探头对准厚度适当（已知）的平底面或曲底面，调节仪器使两次不同的底波分别对准相应的水平刻度值。例如：已知探测厚度为400mm，要调节扫描速度为1：4。可利用CSK-1A试块来调节。 方法如下，将探头对准试块上厚度为100mm的底面，调节仪器上“深度微调”和水平等旋钮，使底波B2和B4分别对准水平刻度50和100，这时扫描线水平刻度值与声程的比例正好为1：4。即为调好了。探测灵敏度的调整 探伤灵敏度是指在确定的探伤范围内的最大声程处发现规定大小缺陷的能力。例如，探伤某工件的灵敏度为400/2，表示在400mm处应能发现2平底孔当量的缺陷。 探伤灵敏度一般
30、是根据有关标准或技术方面的要求来确定的。通过调节仪器上的“增益”、“衰减器”等灵敏度旋钮来实现。 探伤前调节灵敏度的目的是发现被检工件中规定大小的缺陷，并对缺陷定位、定量，探伤灵敏度过高或过低都对探伤不利。高-杂波多，探伤判定困难；低易发生漏检。调节探伤灵敏度的常用方法有试块调节法和工件底波调节法两种。1、利用试块调节法： 试块调节法是根据工件对灵敏度的要求选择适当的试块来调节探伤灵敏度。(X2.5时置于（D）位置探测1.5通孔。3、调节仪器，使回波显示在荧光屏上。4、测定时斜探头置于试块上标注相应折射角度的位置附近，并作平行侧面的前后移动，使回波幅度达到最高，固定探头，测出距离X。5、读取试块侧
31、面上与探头入射点对应的K值读数即为斜探头的K值。也可通过计算求得。精确到0.5mm。=tg-1（L0+L1-35）/30 如此：探头1折射角标称值为 度，实测值为 度。=tg-1（L0+L2-35）/70 探头2折射角标称值为 度，实测值为 度。=tg-1（L0+L3-35）/15 横波扫描速度的调节：横波扫描速度的调节： 在横波检测时，为了定位准确与方便，须将声波在斜楔中的传播时间扣除，以便用探头的入射点作为声程计算的起点，扣除这段声程的作业就是零点校正。时间基线按声程的校准可与零点校正一起进行。 时间基线的校准一般有三种方法：声程法、深度法和水平距离法。 在薄板探伤中，如焊缝探伤中常用深度
32、法和水平距离法，一般当板厚T20时采用深度法，当板厚T20时采用水平距离法。这也和个人的习惯有关。顾名思义，深度法是调节仪器使荧光屏上水平刻度值与反射体的深度成比例，仪器直接显示反射体的深度。同样，水平距离法是调节仪器使荧光屏上水平刻度值与反射体的水平距离成比例，仪器直接显示反射体至入射点的水平距离。 1 1、按声程调节法、按声程调节法 按声程调节法是使示波屏上水平刻度值按声程调节法是使示波屏上水平刻度值与横波声与横波声程程S S成比例，即成比例，即：S=1S=1：n n。这时仪器示波屏上直接。这时仪器示波屏上直接显示横波声程。显示横波声程。 利用利用IIWIIW试块调节，以横波试块调节，以横
33、波1 1：1 1为例。先将直探头为例。先将直探头对准对准91mm91mm底面，调节仪器使底波底面，调节仪器使底波B1B1、B2B2分别对准水平分别对准水平刻度刻度5050、100100，这时扫描线与横波声程的比例正好为，这时扫描线与横波声程的比例正好为1 1：1 1。然后换上横波探头，并使探头入射点对准。然后换上横波探头，并使探头入射点对准R100R100圆圆心，调节水平旋钮使心，调节水平旋钮使R100R100圆弧面回波圆弧面回波B1B1对准水平刻度对准水平刻度100100，这时零位才算校准。水平刻度这时零位才算校准。水平刻度0 0位对应与斜探头的入位对应与斜探头的入射点，而始波的前沿位于射点
34、，而始波的前沿位于0 0刻度线的左侧。刻度线、按声程调节法、按声程调节法 上述调节法是因为上述调节法是因为IIWIIW试块试块R100R100圆心处未切槽，圆心处未切槽，因此横波不能在因此横波不能在R100R100圆弧面上形成多次反射，这样就不圆弧面上形成多次反射，这样就不能直接利用能直接利用R100R100圆弧面来调节横波扫描速度。另外由圆弧面来调节横波扫描速度。另外由于钢中纵波声程于钢中纵波声程91mm91mm相当于横波声程相当于横波声程50mm50mm的时间，的时间，（t t纵纵=91/5900=0.0154=91/5900=0.0154；t t横横=50/3240=0.
35、0154=50/3240=0.0154）所以）所以可利用调节横波扫描速度。可利用调节横波扫描速度。 以上调节方法挺麻烦，针对这一情况，我国的以上调节方法挺麻烦，针对这一情况，我国的CSK-IACSK-IA试块在试块在R100R100圆弧处增加了一个圆弧处增加了一个R50R50的同心圆弧面，的同心圆弧面，这样就可以将横波探头直接对准两圆弧面，较快地完成这样就可以将横波探头直接对准两圆弧面，较快地完成横波扫描速度横波扫描速度1 1：1 1的校准。的校准。2、按水平距离调节法 按水平距离调节横波扫描速度是指示波屏上水平刻度值与反射体的水平距离L成比例，即：L=1：n。这时示波屏上水平刻度值直接显
37、0，调整仪器使其回波B1、B2分别对准时间基线mm，调节仪器示B1-35，B2-70，则水平距离扫描速度为1：1。3 3、按深度调节法、按深度调节法 按深度调节横波扫描速度是使示波屏上的水平刻按深度调节横波扫描速度是使示波屏上的水平刻度值度值与反射体的深度与反射体的深度d d成比例，即成比例，即：d=1d=1：n n。这。这时示波屏上水平刻度值直接显示反射体的深度距离。时示波屏上水平刻度值直接显示反射体的深度距离。此法常用于较厚工件焊缝的横波探伤。此法常用于较厚工件焊缝的横波探伤。 具体调节可在具体调节可在CSK-IACSK-IA试块
38、、半圆试块和横孔试试块、半圆试块和横孔试块上进行。块上进行。利用利用CSK-IACSK-IA试块调节试块调节深度深度d d与声程与声程W W的关系为：的关系为：d=W/d=W/（1+tg21+tg2）-2-2先计算R50、R100对应的深度距离d1、d2 d1=50/（1+K2）-2； d2=100/（1+K2）-2 =2d1将斜探头对准R50、R100，调整仪器使其回波B1、B2分别对准时间基线mm，调节仪器使B1、B2分别对准水平刻度22.4mm和44.8mm，则深度1：1就调好了。利用横孔试块调节 探头分别对准深度d1=
39、40，d2=80mm的CSK-IIIA试块上的16横孔，调节仪器使d1、d2对应的16回波H1、H2分别对准水平刻度40、80，这时深度1：1就调好了。 必须要格外注意的是，这里同样要分别反复调节，使H1对准40时的H2正好对准80 ，波高一致。距离波幅曲线制作：距离波幅曲线（荧光屏线）探测方向的选择探测方向的选择 为了发现纵向缺陷，常采用以下三为了发现纵向缺陷，常采用以下三种方式来进行探测；种方式来进行探测；8-46mm8-46mm板厚板厚以一种以一种K K值探头用一、二次波单面双侧进行探测；值探头用一、二次波单面双侧进行探测；46-120mm46-120mm板厚板厚-以两种探头用一次波在以两种探头用
40、一次波在焊缝两侧进行探测；以两种焊缝两侧进行探测；以两种K K值探头用一值探头用一次波在焊缝两面双侧进行探测，并且加上次波在焊缝两面双侧进行探测，并且加上K1K1探头在焊缝单面双侧进行串列式探测。探头在焊缝单面双侧进行串列式探测。 为了发现横向缺陷，常采用以下三为了发现横向缺陷，常采用以下三种方式探测：种方式探测： 在以磨平的焊缝及热影响区表面以一种或两种K值探头用一次波在焊缝两面做正反两个方向的全面扫查；以一种或两种K值探头用一次波在焊缝两面双侧作斜平行探测，声束轴线度；对于电渣焊中的人字形横裂，可用一种或两种K值探头在45度方向以一次波在焊缝两面双侧进行探测。 扫
41、查方式a、锯齿形扫查。b、前后扫查。c、左右扫查。d、转角扫查。e、环绕扫查。f、平行或斜平行扫查。g、串列式扫查。四种基本扫查方式主要用来确定缺陷的位置、方向、形状等情况。探头移动区域：采用一次反射法或串列式扫查探伤时，探头移动区应大于1.25p； P=2Kt t板厚 移动区域应消除焊接飞溅、铁屑、油垢及其他外部杂质，探伤面应光洁平滑，其表面粗糙度不低于6.3微米，必要时应进行打磨。缺陷大小的测定 探伤中发现位于定量线或定量线以上的缺陷要测定缺陷波的幅度和指示长度。、缺陷波幅度的表示： SL + ( ) dB 340( )dB、缺陷波的指示长度测定： 指示长度：按规定的方法测定的缺陷长度称为
42、缺陷的指示长度。 指示长度总是小于等于缺陷实际长度。相对灵敏度测长法：以缺陷的最高回波为相对基准、沿缺陷的长度方向挪动探头，降低一定的dB值来测定缺陷的长度。常用的是6dB法、端点6dB法。1、6dB法（半波高度法） 由于波高降低6dB后正好为原来的一半，因此6dB法又称为半波高度法。 半波高度法做法：移动探头，找到缺陷的最大反射波（不能饱和），然后沿缺陷方向左右移动探头，当缺陷波高度降低一半时，探头中心线之间的距离就是缺陷的指示长度。112220HlgHV适用于测长扫查过程中缺陷波只有一个高点的情况,如气孔等点状缺陷。端点6dB法（端点半波高度法） 当缺陷各部分反射波高有很大变化时，测长采用
43、端点6dB法。具体做法：当发现缺陷后，探头沿着缺陷方向左右移动，找到缺陷两端的最大反射波，分别以这两个端点反射波高为基准，继续向左、向右移动探头，当端点反射波高降低一半时（或6dB），探头中心线之间的距离即为缺陷的指示长度。 适用于测长扫查过程中缺陷反射波有多个高点的情况。端点峰值法 当缺陷反射波峰起伏变化，有多个高点时，以缺陷两端反射波极大值之间探头的移动长度来确定缺陷的指示长度。 端点峰值法测得的缺陷指示长度比端点6dB测得的指示长度要小一些。 端点峰值法也只适用于测长扫查过程中缺陷反射波有多个高点的情况。端点峰值法缺陷长度的计量GB11345-89规定： i. 当相邻两缺陷间距小于8mm
44、时，以两缺陷指示长度之和作为一个缺陷的指示长度（不含间距）。ii. 缺陷指示长度小于10mm者，按5mm计。焊缝质量评级： 缺陷的大小测定后，要根据缺陷的当量和指示长度结合有关标准的规定来评定焊缝的质量级别。 GB11345-89标准将焊缝质量分为、级。级质量最高，级质量最低。 记录报告：对接焊缝超声波探伤记录对接焊缝超声波探伤记录 试件编号 ：焊接方法坡口形式接头形式探伤器材仪器名称探头型号耦合剂仪器编号试块型号仪器调整状态抑制发射强度增益探测深度探伤灵敏度探头扫差方式探测范围执行标准焊缝缺陷示意图：缺陷记录缺陷记录序号缺陷位置缺陷波高（用dB值表示）指示长度X（距左或右端距离）Y（距离焊缝中心线距离）h（深度）探伤结果探伤操作者姓名探伤日期 年 月 日资格探伤基本工序及安排根据缺陷波型判定其性质：干扰回波的判别：
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